YS 783-2012 红外锗单晶单位产品能源消耗限额
作者:标准资料网 时间:2024-04-30 10:25:28 浏览:8293
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 红外锗单晶单位产品能源消耗限额 |
| 英文名称： | The norm of energy consumption per unit productof infrared germanium single crystal |
| 中标分类： |
冶金 >>
有色金属及其合金产品 >>
稀有分散金属及其合金 |
| ICS分类： |
冶金 >>
有色金属 >>
其他有色金属及其合金
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| 发布部门： | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期： | 2012-05-24 |
| 实施日期： | 2012-11-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 归口单位： | 全国有色金属标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 南京中锗科技股份有限公司 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2012-11-01 |
| 页数： | 12页 |
适用范围
本标准规定了红外锗单晶生产企业的单位产品能源消耗要求、能耗计算原则、计算方法、统计范围、能耗水平的评价及节能管理与措施。
本标准适用于以区熔锗锭为原料的生产红外锗单晶企业单位产品能耗水平的评定和考核，以及新建项目的能耗限制。
前言
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所属分类： 冶金 有色金属及其合金产品 稀有分散金属及其合金 冶金 有色金属 其他有色金属及其合金
【英文标准名称】:Detailspecification:fixedlowpowerfilmSMDresistors-Rectangular-Stabilityclasses1,2.
【原文标准名称】:详细规范:固定低功率膜SMD电阻器.矩形.稳定性1级和2级.
【标准号】:NFC83-241-802-2008
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2008-04-01
【实施或试行日期】:2008-04-12
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Capacitiveloads;Codification;Designcertifications;Detailspecification;Dimensioning;Electronicequipmentandcomponents;Fixedresistors;Limits(mathematics);Non-wire-wound;Orderindications;Qualityassessmentprocedures;Qualityassessmentsystems;Qualityassurance;Rectangularshape;Resistance;Resistanceranges;Resistancevalues;Resistors;SMD;Specification;Stability;Surfacemounting;Surfacemountingdevices;Thicklayers;Types
【摘要】:
【中国标准分类号】:L13
【国际标准分类号】:31_040_10
【页数】:37P.;A4
【正文语种】:其他
【英文标准名称】:StandardTestMethodforProof-VoltageTestingofThinSolidElectricalInsulatingMaterials
【原文标准名称】:薄固体电绝缘材料的耐电压测试用标准试验方法
【标准号】:ASTMD1389-2007
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2007
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:D09.12
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:电缆;电介质测量;电气工程;电绝缘材料;电气绝缘;电气测试;绝缘件;测试;金属线
【英文主题词】:proof-voltagetesting;thinsolidinsulatingmaterials
【摘要】:Occasionaldielectricdefectsmaybefoundincommerciallyavailableandacceptablethinelectricinsulatingmaterials.Moreoftenthannot,thesematerialsareusedinmultiplelayers.Theprobabilitythatoccasionaldielectricweakspotswillcoincidefromlayertolayerisverysmallbutincreaseswiththefrequencyofoccurrenceofthesedefects.Theproof-voltagetestservestoindicatethefrequencyofoccurrenceofdielectricdefectsandfacilitatestheisolationofareaswherethedefectsareexcessive.Someusesofthinelectricalinsulatingmaterialsrequirethecompleteabsenceofanydielectricdefects.Theproof-voltagetestservestolocatedielectricdefects,makingpossiblerepairorreplacementoftheareainvolvedasmaybedesirable.Intheabsenceofdetectedfaults,thistestmethodisnondestructivetothematerialbeingevaluated,exceptasdiscussedin1.2and4.3.Acriticalpartoftheapparatusandprocedureisthesensitivityandspeedofresponseofthefaultdetectiondevice.Thelatterisusuallyacircuitbreaker.Dependinguponthecharacteristicsofthislattercomponent,itisverylikelythattheresultsobtainedusingdifferentsetsofapparatuswillexhibitsignificantvariability.Itisessentialthatthefaultdetectorrespondonlytofaultcurrentsandthatfaultcurrentsaboveapre-definedvaluealwaysresultinafaultdetectorresponse.Thedesign,adjustment,andoperationoftheapparatusmustavoidbotherroneousfunctioningandanyerroneousnonfunctioningofthefaultdetectorthatmightbetheresultofchargingcurrents,imbalanceofimpedance,orcomponentmalfunction.Theproof-voltagetesthasbeenusedasamanufacturingcontroltestandasanacceptancetesttoguaranteeaminimumlevelofdielectricdefects.Ifthistestmethodisusedasanacceptancetest,takecarethatthefactorsdiscussedin5.4and5.5havebeenconsidered,andifmorethanonesetofapparatusistobeused,thatcomparableresultsareobtainedfromthem.1.1Thistestmethodcoversageneralprocedureforproof-voltagetestingofthinsolidelectricalinsulatingmaterialsatcommercialpowerfrequencies.Itisintendedtoapplyprincipallytoflatmaterialsbutisapplicable,withmodification,toanyformthatpermitscontinuouslypassingthematerialbetweensuitableelectrodes.,1.2Onextremelythinmaterials(usuallylessthan0.05mm(0.002in.)),thetestresultsmaybeinfluencedmorebymechanicaldamagecausedbyconditionsoftestthanbydielectricdefects.Consequently,thistestmethodisnotrecommendedforusewithextremelythinmaterials,unlesspriordeterminationhasestablishedthatthetestresultsarenotinfluencedbymechanicaldamage.1.3Whiletheequipmentandproceduresdescribedinthistestmethodrelatespecificallytotestsmadewithpowerfrequencyacvoltages,similarequipmentandproceduresareusedforproof-voltagetestsusingdcvoltages.Totheextentthatitappliestodctests,thistestmethodcanserveasaguideforpersonsmakingsuchtests.However,onlytestsmadewithpowerfrequencyacvoltagescanbesaidtobeinaccordancewiththistestmethod.Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.Forspecifichazardstatements,seeSection7.
【中国标准分类号】:K15
【国际标准分类号】:29_035_20
【页数】:4P.;A4
【正文语种】:
